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涂鍍層測(cè)量?jī)xMMS PC2，搭載 Windows™ CE 操作系統(tǒng)，是適用于高精度涂鍍層厚度測(cè)量與材料測(cè)試的理想解決方案。設(shè)備通過(guò)插卡實(shí)現(xiàn)模塊化設(shè)計(jì)，能實(shí)現(xiàn)與同名手持式儀器相同的功能。為較大程度地提高適用性，可從豐富的探頭種類中選擇相應(yīng)的探頭，以定量測(cè)量樣品的各種屬性和規(guī)格，如涂鍍層厚度、導(dǎo)電性以及鐵素體含量等。

XAN涂鍍層測(cè)厚儀特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用且性價(jià)比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

XDV-µ涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達(dá)10至60µm。短時(shí)間內(nèi)就可形成高強(qiáng)度聚焦射線。除了通用型XDV-µ型儀器，還有專門為電子和半導(dǎo)體行業(yè)而設(shè)計(jì)的儀器。如XDV-µ LD是專為測(cè)量線路板而優(yōu)化的，而XDV-µ

FISCHER通過(guò)GOLDSCOPE涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x系列儀器，為無(wú)損的黃金和貴金屬測(cè)試提供定制化解決方案。這些耐用的X射線熒光儀器，其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)而設(shè)計(jì)。專注于重要的功能，在控制成本的同時(shí)仍只采用廣受認(rèn)可、高質(zhì)量的組件。

TIME2501覆層測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性（鋅鋁鉻銅橡膠油漆等）覆蓋層厚度的測(cè)量。本儀器符合下列有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法 可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測(cè)頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。

TIME®2113超聲波測(cè)厚儀測(cè)量厚度的原理與光波測(cè)量原理相似。探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測(cè)物體并在物體中傳播，到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭，通過(guò)精*測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。該機(jī)可實(shí)現(xiàn)0.01mm的高分辨力。 測(cè)厚儀采用超聲波測(cè)量原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量。此儀器可對(duì)各種板材和各種加工零。